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J-GLOBAL ID：202002249457916241   整理番号：20A2767343

宇宙材料の二次Electron放出収率スペクトル測定システムの開発【JST・京大機械翻訳】

Development of a Measurement System for the Secondary Electron Emission Yield Spectrum of Space Materials

著者 (7件)： Chen Yu (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Huang Guorui (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Yang Yan (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Shi Qingyun (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Chen Zecai (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Wang Shuang (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China) ,  Cheng Yonghong (Xi’an Jiaotong University,School of Electrical Engineering,Xi’an,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ICSMD  ページ： 160-163  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 宇宙飛行体が宇宙軌道で動作するとき,二次電子放出の現象は,宇宙における荷電粒子の影響の下で生じて,宇宙飛行体の表面を引き起こして,長期蓄積は宇宙探査機とその装置に損害を引き起こすであろう。宇宙飛行体ライブ保護と寿命評価のニーズに応じて,本論文は宇宙材料の二次電子放出収率スペクトル試験技術を研究して,試験システムの開発を完了した。最初に,2次電子放出係数測定システムにおける安定な電子ビーム電流を達成するために,0~2000eVのエネルギー範囲,1nA~10μAのビーム電流および0.5mmの最小ビームスポット直径を有する電子銃を用いた。第2に,真空システムは機械的ポンプ,分子ポンプ,およびスパッタリングイオンポンプを使用し,その結果,それは1・の真空に達することができる。第3に,真空二次電子収集ボールと格子構造の測定スキームを初めて提案し,真の二次電子と後方散乱二次電子の区別収集と測定を実現できる。最後に,金属材料の二次電子収率スペクトルの測定を研究し,酸素フリー銅と金材料の二次電子放出収率スペクトルの効率的測定を完了した。試験結果は,0~2000eVの入射電子の下のCuとAuサンプルの二次電子放出収率スペクトルデータが文献と一致し,試験システムの信頼性を検証した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 荷電粒子 ,  電子銃 ,  電子ビーム ,  電流 ,  二次電子放出 ,  金 ,  信頼性 ,  格子構造 ,  銅 ,  金属材料 ,  宇宙探査機 ,  *スペクトル ,  後方散乱 ,  *宇宙空間
準シソーラス用語： 二次電子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 宇宙 ,  放出 ,  収率 ,  スペクトル測定 ,  開発