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J-GLOBAL ID：202002255401824241   整理番号：20A1275662

連続走査積分法によるSiストリップX線検出器で収集した粉末回折データの赤道収差【JST・京大機械翻訳】

Equatorial aberration of powder diffraction data collected with an Si strip X-ray detector by a continuous-scan integration method

著者 (1件)： Ida Takashi (Advanced Ceramics Research Center, Nagoya Institute of Technology, Asahigaoka 10-6-29, Tajimi, Gifu 507-0071, Japan)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 53  号： 3  ページ： 679-685  発行年： 2020年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 連続走査積分モードにおけるSiストリップX線検出器で収集した粉末回折データに対する赤道収差の厳密で近似的な数学式を示した。市販の粉末回折計で測定した実験データを処理するために近似式を適用した。Copyright 2020 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 幾何学 ,  *収差 ,  *ケイ素 ,  帯板 ,  近似法 ,  *赤道 ,  検出器 ,  近似式 ,  *X線検出器
準シソーラス用語： *粉末回折 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 赤道収差 ,  粉末回折 ,  Siストリップ検出器 ,  Bragg-Brentano幾何学 ,  機器機能

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (9件)： 走査 ,  積分法 ,  Si ,  ストリップ ,  X線検出器 ,  収集 ,  粉末回折 ,  赤道 ,  収差