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J-GLOBAL ID：202002255854741635   整理番号：20A2691259

アーキテクチャイベント測定による高周波性能監視【JST・京大機械翻訳】

High Frequency Performance Monitoring via Architectural Event Measurement

著者 (4件)： Woralert Chutitep (Clarkson University,Department of Electrical and Computer Engineering,Potsdam,NY) ,  Bruska James (Independent Researcher,Syracuse,NY) ,  Liu Chen (Clarkson University,Department of Electrical and Computer Engineering,Potsdam,NY) ,  Yan Lok (Air Force Research Lab,Rome,NY)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： IISWC  ページ： 114-122  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ハードウェア性能カウンタによる詳細なソフトウェア実行情報を得ることは,強力な解析技術である。性能カウンタは,プログラム行動をモニターする有効な方法を提供する。したがって,ハードウェアアーキテクチャまたはソフトウェア設計および実装による性能ボトルネックを,同定,分離および改良することができた。しかし,モニタリング機構の粒度とオーバヘッドは,適切な解析にとって極めて重要である。多くの事前設計は,侵入符号変化,遅いタイマーシステム,またはカーネルパッチの必要性のような継承された欠点で,性能対監視を提供できる。本論文では,カーネルモジュールベース設計を用いて,正確な,非侵襲的,低オーバヘッド,周期的性能対データを生成することができる新しい監視機構であるK-LEB(イベント行動のKernel-Lineage)を提示した。提案手法を3つの異なる事例研究で評価し,その有効性,正当性および効率を実証した。カーネル空間へのタイミングの責任を動かすことにより,K-LEBは100μsレートで周期データを収集でき,これは他の同等の性能対監視手法よりも100倍速い。同時に,それは少なくとも58.8%の監視オーバーヘッドを減少して,記録された性能計数とその他のツールの間の差異は0.3%未満である。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： HF【周波数】 ,  ハードウェア ,  *ソフトウェア ,  事例研究 ,  ソフトウェア設計 ,  有効性 ,  計算機アーキテクチャ
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  非侵襲 ,  カーネル空間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： アーキテクチャ ,  イベント ,  高周波 ,  性能監視