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J-GLOBAL ID：202002256603855218   整理番号：20A2142205

SliT:J-PARCミューオンg-2/EDM実験のためのサブナノ秒時間ウォークを持つストリップセンサ読出しチップ【JST・京大機械翻訳】

SliT: A Strip-Sensor Readout Chip With Subnanosecond Time Walk for the J-PARC Muon g - 2/EDM Experiment

著者 (14件)： Kishishita Tetsuichi (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Sato Yutaro (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Fujita Yoichi (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Hamada Eitaro (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Mibe Tsutomu (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Nagasawa Tsubasa (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Shirabe Shohei (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Shoji Masayoshi (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Suehara Taikan (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Tanaka Manobu M. (KEK, High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies, Tsukuba, Japan) ,  Tojo Junji (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Tsutumi Yuki (Department of Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Yamanaka Takashi (Faculty of Arts and Science, Kyushu University, Fukuoka, Japan) ,  Yoshioka Tamaki (Research Center for Advanced Particle Physics, Kyushu University, Fukuoka, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 67  号： 9  ページ： 2089-2095  発行年： 2020年 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 日本の陽子加速器研究複合体(J-PARC)におけるミューオンのミューオン異常磁気モーメントと電気双極子モーメント(EDM)の測定用に,「SliT」と名付けた新しいシリコンストリップ読出しチップを開発した。SliTチップを,混合信号集積回路を有するSilterra 180nm CMOS技術で設計した。アナログ回路は,従来の電荷感受性増幅器,成形増幅器,および128の同一チャネルのそれぞれに対する2つの異なる識別器を組込んだ。ディジタル部分は,記憶メモリ,イベントビルブロック,シリアル装置,および低電圧差動信号(LVDS)ドライバを含む。SliTの明確な特徴はゼロ交差アーキテクチャの利用であり,CR RMDAACフィルタとこれに続く電圧微分器としてのCR回路から成る。このアーキテクチャは,サブナノ秒振幅独立時間ウォークを有するヒット信号の生成を可能にし,これは実験に対する一次要求である。試験結果は,0.5と3MIP信号の間で0.38±0.16nsの時間歩行を示した。等価雑音電荷は,{C_{det}=33}pFで,ストリップセンサ容量として{1547±75e{-π(rms)である。SliT128Cは,J-PARCミューオンg-2/EDM実験の全ての要求を満たす。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 記憶装置 ,  集積回路 ,  増幅器 ,  電圧 ,  電荷 ,  弁別器 ,  *μ粒子 ,  微分器 ,  零交差 ,  複合体 ,  計算機アーキテクチャ ,  アナログ回路 ,  CMOS
準シソーラス用語： 低電圧 ,  混合信号 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (9件)： J-PARC ,  ミューオン ,  EDM ,  実験 ,  サブ ,  ナノ秒時間 ,  ウォーク ,  ストリップ ,  読出し