Arulmurugan Azhaganantham について
Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India について
Murugesan Govindasamy について
Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India について
Vivek Balasubramaniam について
Department of ECE, Kongu Engineering College, Perundurai, TamilNadu, India について
Journal of Electronic Testing. Theory and Applications について
高温 について
ベクトル について
電力 について
テストパターン について
有効性 について
遺伝的アルゴリズム について
システムオンチップ について
ベンチマーク回路 について
試験データ について
テストデータ圧縮 について
遺伝的アルゴリズム について
テストデータ圧縮 について
ホットスポット について
熱を意識した試験 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
半導体集積回路 について
ビット について
マスク について
システムオンチップ について
意識 について
試験データ について