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J-GLOBAL ID：202002268036196895   整理番号：20A2241951

角度分解飛行時間電子分析器を用いた時間分解X線光電子回折

Time-resolved X-ray photoelectron diffraction using an angle-resolved time-of-flight electron analyzer

著者 (12件)： Ang Artoni Kevin R. (Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Fukatsu Yuichiro (Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Kimura Koji (Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Yamamoto Yuta (Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Yonezawa Takahiro (School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Nitta Hirokazu (School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Fleurence Antoine (School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Yamamoto Susumu (The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan) ,  Matsuda Iwao (The Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo, Kashiwa, Chiba 277-8581, Japan) ,  Yamada-Takamura Yukiko (School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology (JAIST), 1-1, Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Hayashi Kouichi (Structural Physics Laboratory, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan) ,  Hayashi Kouichi (Frontier Research Institute for Materials Science, Nagoya Institute of Technology, Gokiso, Showa, Nagoya, Aichi 466-8555, Japan)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 59  号： 10  ページ： 100902 (5pp)  発行年： 2020年10月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線回折(XPD)は,材料の表面および界面に関する原子分解能,元素感受性局所構造情報を提供する。本論文で報告した研究では,二次元角度分解飛行時間(2DARTOF)システムを用いて,エピタキシャルシリセンの時間分解XPD実験を行った。シリセン層中の異なる原子サイトからの2つのSi2pピーク成分は個々のXPDパターンの抽出を可能にした。時間分解測定は,前方集束ピークにおける小角シフトを捕捉し,シリセン構造のレーザ誘起変化を示した。10nsでは,XPDパターンは平衡状態に戻るように見えた。本研究は,2DARTOFシステムが時間分解XPD測定に適していることを示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *角度分解分光法 ,  *飛行時間法 ,  計測 ,  *X線光電子回折 ,  分解能 ,  構造 ,  X線回折 ,  エピタクシー ,  ケイ素
準シソーラス用語： 時間分解法 ,  原子分解能 ,  局所構造 ,  エピタキシャル成長 ,  シリセン ,  レーザ誘起

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 分解 ,  飛行時間 ,  電子 ,  分析器 ,  X線光電子回折