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J-GLOBAL ID:202002268036196895   整理番号:20A2241951

角度分解飛行時間電子分析器を用いた時間分解X線光電子回折

Time-resolved X-ray photoelectron diffraction using an angle-resolved time-of-flight electron analyzer
著者 (12件):
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巻: 59  号: 10  ページ: 100902 (5pp)  発行年: 2020年10月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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X線回折(XPD)は,材料の表面および界面に関する原子分解能,元素感受性局所構造情報を提供する。本論文で報告した研究では,二次元角度分解飛行時間(2DARTOF)システムを用いて,エピタキシャルシリセンの時間分解XPD実験を行った。シリセン層中の異なる原子サイトからの2つのSi2pピーク成分は個々のXPDパターンの抽出を可能にした。時間分解測定は,前方集束ピークにおける小角シフトを捕捉し,シリセン構造のレーザ誘起変化を示した。10nsでは,XPDパターンは平衡状態に戻るように見えた。本研究は,2DARTOFシステムが時間分解XPD測定に適していることを示した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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電子分光スペクトル 
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