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J-GLOBAL ID：202002272134122719   整理番号：20A1068824

「直接非晶質飛跡形成に対するしきい値以下の電子エネルギー堆積によるLiNbO_3における損傷発展」[J.Appl.Phys.126,125105(2019)]に関するコメント【JST・京大機械翻訳】

Comment on “Damage evolution in LiNbO₃ due to electronic energy deposition below the threshold for direct amorphous track formation” [J. Appl. Phys. 126, 125105 (2019)]

著者 (1件)： Szenes G. (Department of Materials Physics, Eotvos University, PO Box 32, H-1518 Budapest, Hungary)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 127  号： 15  ページ： 156101-156101-3  発行年： 2020年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： それらの論文において,閾値条件に近い照射後のLiNbO_3における欠陥形成と非晶質化を扱った。二つの熱スパイクモデルを解析に適用し,互いに適合しないことを示した。著者らのモデル効率γの重要なパラメータは,本論文において誤って導き出される。実験との形式的一致を,偏差を低減するための4つのパラメータを用いた点欠陥生成に対して達成した。非晶質ポケットの成長により非晶質化が進行すると仮定した。しかし,これらのポケットの形成条件は,その妥当性の範囲を超えた非弾性熱スパイクモデルを用いて計算され,このモデルは著者らの励起子モデルの基本的仮定を排除する。上記の批判の追求において,西欧の論文はよく考えられていない。そして,実験結果は,より結果的で密接に推論された分析を必要とする。Copyright 2020 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 点欠陥 ,  励起子 ,  熱スパイク ,  *非晶質 ,  西ヨーロッパ ,  非弾性 ,  アモルファス化
準シソーラス用語： *電子エネルギー ,  欠陥形成 ,  飛跡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (8件)： 非晶質 ,  飛跡 ,  しきい値 ,  電子エネルギー ,  堆積 ,  損傷 ,  発展 ,  コメント