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J-GLOBAL ID：202002274505005034   整理番号：20A2767696

アナログRRAMデバイスにおける保持故障挙動の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation of Retention Failure Behavior in Analog RRAM Devices
著者 (9件)：
Song Wendong

Song Wendong について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Lee Hock Koon

Lee Hock Koon について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Wang Weijie

Wang Weijie について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Li Minghua

Li Minghua について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Chen Zhixian

Chen Zhixian について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Liu Jen-Chieh

Liu Jen-Chieh について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Wang I-Ting

Wang I-Ting について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Zhuo Victor Yi-Qian

Zhuo Victor Yi-Qian について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について

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Zhu Yao

Zhu Yao について

(Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634)

Institute of Microelectronics, Agency for Science, Technology and Research (A*STAR),Singapore,138634 について


資料名：
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

IEEE Conference Proceedings について


巻： 2020  号： IPFA  ページ： 1-4  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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本論文では,アナログRRAMデバイスにおける保持故障挙動を調べた。保持時間はTiW/Al_2O_3/Ta_2O_5/Taデバイスの方がTiW/HfO_2/Ta_2O_5/Taデバイスよりも長いことが分かった。酸素イオン/空孔に対するより高い拡散障壁は,TiW/Al_2O_3/Ta_2O_5/Taデバイスでより長い保持時間を引き起こす。多重メモリ状態が観察され,室温で少なくとも104s安定であり,この故障時間は10%以内の抵抗変動の時間として定義した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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記憶装置

記憶装置 について

, 
*故障

故障 について

, 
アナログ系

アナログ系 について

, 
多重化

多重化 について

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保持時間

保持時間 について

, 
拡散障壁

拡散障壁 について


準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*ReRAM

ReRAM について

, 
酸素イオン

酸素イオン について

, 
抵抗変化

抵抗変化 について

, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件)：
分類
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図形・画像処理一般 
(JE04010I)

図形・画像処理一般 について

,  音声処理 
(JE05000E)

音声処理 について

,  符号理論 
(ND02030R)

符号理論 について

,  専用演算制御装置 
(JC04030Y)

専用演算制御装置 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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アナログ

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RRAM

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故障

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挙動

挙動 について

, 
研究

研究 について


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