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J-GLOBAL ID:202002278747757226   整理番号:20A0337902

超伝導被覆導体における縦磁場効果を用いた臨界電流密度の層厚依存性の評価【JST・京大機械翻訳】

Evaluation of Layer Thickness Dependence of Critical Current Density using Longitudinal Magnetic Field Effect in Superconducting Coated Conductors
著者 (6件):
資料名:
巻: 1293  号:ページ: 012017 (5pp)  発行年: 2019年 
JST資料番号: W5565A  ISSN: 1742-6588  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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超伝導体の臨界電流密度J_cが一定であるとき,臨界電流I_cは超伝導断面積に比例して増加する。しかし,超伝導被覆導体の場合,超伝導層の厚さが約2μmを超えると,I_cのさらなる増加はなかった。これは,J_cが超伝導層の構造劣化により減少するためである。本研究では,異なる厚さの超伝導層を有する試料に対するJ_cを,I_cを最大化するための最適層厚を調べるために,縦磁場効果を用いて測定した。層の厚さによるJ_c特性の違いは,横磁場よりも縦磁場の下でより明確に現れた。これは低温で特に真であり,最適層厚は約1μmであることが分かった。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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酸化物系超伝導体の物性  ,  超伝導材料 

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