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J-GLOBAL ID:202002279652841983   整理番号:20A1331381

超伝導X線検出器を搭載した走査電子顕微鏡の開発と構造材料分析への応用

Development and Application of SEM-EDS Analyzer Utilizing Superconducting X-ray Detector
著者 (4件):
資料名:
巻: 86  号:ページ: 197-200(J-STAGE)  発行年: 2020年 
JST資料番号: U0462A  ISSN: 1882-675X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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・微量軽元素等に対する最先端分析性能を実現した経緯と,構造材料への応用を紹介。
・半導体X線検出器(SDD)の高スループットと波長分散型X線分光器(WDS)の高エネルギー分解能を両立させた超伝導トンネル接合(STJ)アレイ検出器を搭載した走査電子顕微鏡(SC-SEM)を開発。
・SC-SEMは,1mSr程度の高立体角と10eV以下の高エネルギー分解能を有し,窒素,酸素,ナトリウム,シリコン等の微量軽元素検出が可能。
・さらに,耐熱鋼の一種である9%Cr鋼の分析では,微量軽元素検出に加えて,鉄原子の酸化状態分析が可能なことを提示。
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分類 (2件):
分類
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顕微鏡法  ,  金属組織観察法 
引用文献 (7件):
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