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J-GLOBAL ID:202002279698176143   整理番号:20A0467507

高サンプリング周波数を有する発振回路によるひずみ計測

Strain measurement using oscillator circuit sensor with high sampling frequency
著者 (4件):
資料名:
巻: 86  号: 881  ページ: ROMBUNNO.19-00203(J-STAGE)  発行年: 2020年 
JST資料番号: U0182B  ISSN: 2187-9761  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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ひずみ計測は,機械・構造物の損傷を検出・予測するヘルスモニタリングに適用されている.著者らは,構成が簡易な発振回路とひずみゲージを組み合せた計測システムを提案し,ワイヤレスで計測値をデジタル出力でき,静ひずみをブリッジ回路と同程度の精度で計測可能な小型センサを作製した.このセンサの周波数計測には直接計数法を用いてきたが,この方法は動的ひずみを追随できない問題があった.本研究では,高サンプリング周波数を実現できるレシプロカル法を導入した発振回路センサを提案する.さらに,このセンサを疲労き裂進展試験に適用し,動ひずみ計測における有効性を示すとともに,き裂進展状況の検出が可能であることを示した.(著者抄録)
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分類 (3件):
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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  ,  発振回路  ,  金属材料 
タイトルに関連する用語 (3件):
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