Xiao Shilei について
School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China について
Li Bincheng について
School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China について
Wang Jing について
School of Optoelectronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, People’s Republic of China について
Metrologia について
共振器 について
反射鏡 について
反射率 について
不確実性 について
測定精度 について
フィルタリング について
絶対測定 について
精密測定 について
線形性 について
データ処理 について
レーザジャイロ について
交差検証法 について
光損失 について
クロスチェック について
高反射係数 について
分光法と分光計一般 について
光の屈折,反射,分散,偏向,吸収,透過 について
放射伝達,放射変調 について
空洞 について
高反射率 について
精密測定 について