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J-GLOBAL ID：202002281098037354   整理番号：20A0168899

SOIピクセル検出器を用いたX線応力測定装置用DAQシステムの開発 II

著者 (7件)： 西村龍太郎 (KEK) ,  佐々木敏彦 (金沢大) ,  三井真吾 (金沢大) ,  新谷正義 (金沢大) ,  新井康夫 (KEK) ,  三好敏喜 (KEK) ,  岸本俊二 (KEK)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 74  号： 2  ページ： ROMBUNNO.10aB21-6  発行年： 2019年09月24日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： KEKを中心とするSOIPIXグループでは、Silicon-On-Insulator (SOI)技術によるピクセル型検出器(以下SOIPIX検出器)を開発している。この検出器はシリコンセンサとLSI回路を一体のチップに収めた新型撮像デバイス...【本文一部表示】

シソーラス用語： *SOI構造 ,  ピクセル検出器 ,  *X線応力測定 ,  残留応力 ,  非破壊検査 ,  データ収集システム ,  X線検出器 ,  Bragg回折
準シソーラス用語： SOI技術 ,  DAQ

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (5件)： SOI ,  ピクセル検出器 ,  X線応力測定 ,  DAQ ,  開発