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J-GLOBAL ID:202002283679561186   整理番号:20A2619668

二重パルス試験システムにおける寄生パラメータを特性化するためのシミュレーションに基づく方法【JST・京大機械翻訳】

Simulation Based Method to Characterize Parasitic Parameters in a Double Pulse Test System
著者 (4件):
資料名:
巻: 2020  号: ICIEA  ページ: 898-903  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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電力半導体デバイスのスイッチング速度は徐々に増加するので,システム電磁適合性に及ぼす寄生パラメータの影響は著しく増加する。寄生パラメータのシミュレーションベースのキャラクタリゼーションは,初期設計段階で電力変換器におけるそれらの影響を予測するために非常に重要である。本論文では,二重パルス試験システムにおける部品の寄生パラメータをQ3Dで抽出し,測定で検証した。次に,IGBTモジュールにおけるスイッチング電圧スパイクと共通モード電流に影響する主要な寄生パラメータを決定するために,包括的回路共シミュレーションモデルを開発した。提案したキャラクタリゼーション手順と共シミュレーション技術は,他の複雑な電力変換器にも確実に応用できる。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 

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