抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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3次元積層LSIシステムの1つであるビルディングブロック型計算システムは,コイル間の電磁誘導を利用した無線通信インタフェースTCI(Through Chip Interface)を各種チップに設け,これらを組合せて多様なシステムを実現する。我々は,それぞれのチップに積層することで,TCI IPの動作を確認し,その特性を測定するため,TCI Testerを開発した。本報告では,このTCI Testerを粗粒度再構成チップCCSOTB2および共有メモリチップSMTTに積層して,その動作範囲を測定した結果を示す。TCITesterからCCSOTB2の転送については,送信側,受信側共に設計値に近い電圧である1.2Vで動作した。一方で,TCITesterからSMTTについては,TCI Testerを2枚積層した場合と同様1.7Vの高い電圧が必要であった。さらに,逆方向の転送はいずれも確認できておらず,さらなる測定が必要である。(著者抄録)