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J-GLOBAL ID:202002291984164840   整理番号:20A1919985

マグネトロン共スパッタリングにより成長させたGeリッチAl_2O_3膜の相転移の分光学的キャラクタリゼーション【JST・京大機械翻訳】

Spectroscopic characterization of phase transformation in Ge-rich Al2O3 films grown by magnetron co-sputtering
著者 (10件):
資料名:
巻: 277  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: E0935A  ISSN: 0167-577X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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異なるGe含有量を有するGeリッチAl_2O_3膜の光学的および構造的特性の熱的に刺激された発展を調べた。堆積したままの膜とT_A≦550°Cで焼なました膜は,Ge含有量に関係なく非晶質であることが分かった。非晶質Geクラスタの生成はT_A=550°Cで生じ,一方,それらの結晶化はT_A=600°Cで顕著であり,より高いGe含有量ではより短いアニーリング時間を必要とする。T_A=550°Cでアニールした膜は広い光ルミネセンススペクトルを示した。その形状と強度はGe含有量と励起エネルギーに依存する。T_A=600°CでのアニーリングはGeO_x相被覆Geクラスタの形成に由来する付加的UVバンドの出現をもたらした。励起スペクトルの解析を行い,これらの膜における発光の機構を識別し,Ge相(非晶質クラスタおよび/またはナノ結晶)におけるキャリア再結合の寄与,ならびに界面またはホスト欠陥を識別した。自由キャリアの濃度と移動度も推定した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (4件):
分類
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半導体薄膜  ,  その他の無機化合物の薄膜  ,  光物性一般  ,  酸化物薄膜 

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