特許
J-GLOBAL ID：202003000612974300

干渉有無検知装置および干渉有無検知方法

発明者：
村瀬 浩規

村瀬 浩規 について


出願人/特許権者：
株式会社FUJI

株式会社FUJI について


代理人 (3件)： 山本 喜一 ,  小林 脩 ,  木村 群司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-186542
公開番号（公開出願番号）：特開2018-056153
特許番号：特許第6694358号
出願日： 2016年09月26日
公開日（公表日）： 2018年04月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 電子部品を収納する部品収納部を形成したベーステープに、前記部品収納部を閉塞するカバーテープを接着したキャリアテープと、 前記キャリアテープを送るテープ送り装置と、前記テープ送り装置による前記キャリアテープの送りを利用して前記カバーテープを剥離するカッターとを備えたフィーダと、 前記カッターの上面の高さ位置と、前記部品収納部に収納された前記電子部品の上面の高さ位置とをそれぞれ測定する高さ測定センサと、 前記フィーダに前記キャリアテープが装着された際に、前記高さ測定センサによって、前記カッターの上面の高さ位置および前記部品収納部に収納された前記電子部品の上面の高さ位置を測定するように制御し、その測定結果に基づいて前記カッターと前記電子部品との干渉の有無を判定する制御装置と、 を備える干渉有無検知装置。
IPC (1件)：
H05K 13/02 ( 200 6.01)
FI (1件)：
H05K 13/02 C
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM