特許
J-GLOBAL ID：202003001723920507
最上位事象の評価装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
藤田 考晴
, 三苫 貴織
, 川上 美紀
, 長田 大輔
, 河合 利恵
, 藤澤 厚太郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-024551
公開番号（公開出願番号）：特開2017-142715
特許番号：特許第6700830号
出願日： 2016年02月12日
公開日（公表日）： 2017年08月17日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 基本事象の発生確率を、基本事象の状態に基づき決定し、最上位事象等の発生確率を導出する最上位事象の評価装置において、
最上位事象を発生させる基本事象の最小の組合せである最小カットセットが保存される最小カットセット管理テーブルと、
基本事象の状態情報に対応する係数情報が保存される係数管理テーブルと、
評価対象について各基本事象の状態情報が保存される状態管理テーブルと、
前記最小カットセット管理テーブル、前記係数管理テーブル、前記状態管理テーブルの情報に基づき評価対象の発生確率あるいは最上位事象の発生確率を導出する処理部と、
前記処理部で導出した前記評価対象の発生確率あるいは前記最上位事象の発生確率が保存される評価結果管理テーブルと、を備え、
前記評価対象は、複数の評価要素の組合せによって識別され、
前記状態管理テーブルは、前記複数の評価要素毎に、各基本事象の状態が複数の状態の何れかであることを示す状態情報が保存される複数の状態管理テーブルとに分かれ、
前記処理部は、前記評価対象を前記複数の評価要素の組合せに置き換え、前記複数の状態管理テーブルを参照することにより、前記複数の評価要素の組合せによる前記評価対象の発生確率及び前記最上位事象の発生確率を導出することを特徴とする最上位事象の評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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