特許
J-GLOBAL ID：202003002420530362

画像解析装置、画像解析方法、及び、画像解析プログラム

発明者：
松本 修一

松本 修一 について


出願人/特許権者：
ノーリツプレシジョン株式会社

ノーリツプレシジョン株式会社 について


代理人 (3件)： 立花 顕治 ,  山下 未知子 ,  桝田 剛
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-517619
特許番号：特許第6780639号
出願日： 2016年02月04日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 撮影装置によって撮影された撮影画像であって、当該撮影画像内の各画素の深度を示す深度データを含む撮影画像を継続的に取得する画像取得部と、 前記撮影画像から対象物体を検出する処理を開始する際に、取得された前記撮影画像を前記撮影画像の背景である背景画像に設定する背景設定部と、 背景差分法に基づいて、前記撮影画像と前記背景画像との差分を算出することで、前記撮影画像から前記対象物体を検出する検出部と、 を備え、 前記背景設定部は、 前記対象物体を検出する処理を開始する際に取得された前記撮影画像にラベリング処理を適用することで、取得された前記撮影画像内で1又は複数の連結成分領域を抽出し、抽出された1又は複数の連結成分領域が前記対象物体の写っている領域に該当するか否かを解析することで、前記対象物体を検出する処理を開始する際に取得された前記撮影画像内に前記対象物体が写っているか否かを判定し、 取得された前記撮影画像内に前記対象物体が写っていると判定した場合に、取得された前記撮影画像内において前記対象物体の写っている領域の各画素の深度を変更した上で、取得された前記撮影画像を前記背景画像に設定する、 画像解析装置。
IPC (4件)：
G06T 7/20 ( 201 7.01) ,  G06T 7/254 ( 201 7.01) ,  G08B 25/00 ( 200 6.01) ,  G08B 25/04 ( 200 6.01)
FI (4件)：
G06T 7/20 300 Z ,  G06T 7/254 B ,  G08B 25/00 510 M ,  G08B 25/04 K
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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