特許
J-GLOBAL ID：202003003044741086
異常判定装置、異常判定システムおよび異常判定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 共立
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-151084
公開番号（公開出願番号）：特開2020-027386
出願日： 2018年08月10日
公開日（公表日）： 2020年02月20日
要約：
【課題】機械学習による学習モデルを用いて正常および異常を判定する場合に、正常および異常の判定予測を高精度にすることができる予備処理を行う異常判定装置を提供する。【解決手段】異常判定装置100は、処理装置10に取り付けられたセンサ11により検出された第一状態データを取得する第一状態データ取得部103と、正常および異常に関する品質データを取得する品質データ取得部101と、第一状態データを変換した第二状態データを生成するための第一学習モデルを生成する第一学習モデル生成部106と、第二状態データと品質データが属する分類とに関する第二学習モデルを生成する第二学習モデル生成部109と、第一学習モデルを用いて、第一入力データに対応する第二状態データを予測する第一予測部111と、第二学習モデルを用いて、第二入力データに対応する品質データが属する分類を予測する第二予測部112とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
処理装置による所定の処理の実行時に、前記処理装置に取り付けられたセンサにより検出された第一状態データを取得する第一状態データ取得部と、
前記所定の処理についての正常および異常に関する品質データであって、前記第一状態データに対応付けられた前記品質データを取得する品質データ取得部と、
前記第一状態データを第一学習データとする機械学習により、前記第一状態データを変換した第二状態データを生成するための第一学習モデルを生成する第一学習モデル生成部と、
前記第二状態データと前記品質データとを第二学習データとする機械学習により、前記第二状態データと前記品質データが属する分類とに関する第二学習モデルを生成する第二学習モデル生成部と、
判定タイミングにおける前記第一状態データを第一入力データとして、前記第一入力データおよび前記第一学習モデルを用いて、前記第一入力データに対応する前記第二状態データを予測する第一予測部と、
前記第二状態データを第二入力データとして、前記第二入力データおよび前記第二学習モデルを用いて、前記第二入力データに対応する前記品質データが属する分類を予測する第二予測部と、
を備える、異常判定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
3C223AA12
, 3C223BA01
, 3C223CC01
, 3C223EB01
, 3C223EB02
, 3C223EB03
, 3C223EB07
, 3C223FF02
, 3C223FF03
, 3C223FF12
, 3C223FF13
, 3C223FF22
, 3C223FF26
, 3C223FF33
, 3C223GG01
, 3C223HH02
, 3C223HH08
, 3C223HH29
