特許
J-GLOBAL ID：202003007035607186
粒子線治療システム、計測粒子線CT画像生成方法、およびCT画像生成プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人開知国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-047998
公開番号（公開出願番号）：特開2020-146334
出願日： 2019年03月15日
公開日（公表日）： 2020年09月17日
要約：
【課題】治療装置を大型化することなく、高精度な阻止能比分布の計測が可能な粒子線治療システム、計測粒子線CT画像生成方法、およびCT画像生成プログラムを提供する。【解決手段】荷電粒子線として、陽子線およびヘリウム線を照射可能であり、患者5を透過した陽子線のエネルギーを計測する残飛程計測装置81と、残飛程計測装置81によって計測された患者5の陽子線に対する阻止能比分布を求め、求めた阻止能比分布に基づいてヘリウム線に対する阻止能比分布を演算する粒子線CT画像生成装置80と、を備えている。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被照射体の照射対象に対して荷電粒子線を照射する粒子線治療システムであって、
前記荷電粒子線として、第1荷電粒子線と、前記第1荷電粒子線とは粒子の種類が異なる第2荷電粒子線とを照射可能であり、
前記第1荷電粒子線および前記第2荷電粒子線を加速する加速器と、
前記加速器で加速された前記第1荷電粒子線あるいは前記第2荷電粒子線を前記照射対象に照射する照射装置と、
前記被照射体を挟んで対向する位置に配置され、前記第1荷電粒子線のエネルギーを計測するモニタと、
前記モニタによって計測されたエネルギーに基づいて前記被照射体の前記第1荷電粒子線に対する第1阻止能比分布を求め、前記第1阻止能比分布に基づいて前記第2荷電粒子線に対する第2阻止能比分布を演算する粒子線CT画像生成装置と、を備え、
前記第1荷電粒子線と前記第2荷電粒子線との組み合わせは、前記第1荷電粒子線が陽子線で前記第2荷電粒子線がヘリウム線の組み合わせ、または、前記第1荷電粒子線がヘリウム線で前記第2荷電粒子線が炭素線である組み合わせ、のいずれかである
ことを特徴とする粒子線治療システム。
IPC (1件)：
FI (4件)：
A61N5/10 H
, A61N5/10 D
, A61N5/10 P
, A61N5/10 Q
4C082AA01
, 4C082AC05
, 4C082AE03
, 4C082AG02
, 4C082AG12
, 4C082AG22
, 4C082AG42
, 4C082AG52
, 4C082AJ06
, 4C082AL06
, 4C082AN02
, 4C082AN04
, 4C082AN05
, 4C082AP02
, 4C082AP03
, 4C082AP07
審査官引用 (1件)
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粒子ビーム発生装置
公報種別：公表公報
出願番号：特願2013-509580
出願人：ジーエスアイヘルムホルツツェントゥルムフュアシュヴェリオーネンフォルシュングゲーエムベーハー
引用文献：
審査官引用 (3件)
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ペンシルビーム方式による重イオンCTの基礎研究
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The image quality of ion computed tomography at clinical imaging dose levels
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Stopping power accuracy and achievable spatial resolution of helium ion imaging using a prototype pa
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