特許
J-GLOBAL ID：202003008285166637
架橋密度の測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-115437
公開番号（公開出願番号）：特開2017-219476
特許番号：特許第6769123号
出願日： 2016年06月09日
公開日（公表日）： 2017年12月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する方法であって、
硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する部位全体に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程と、
前記X線吸収スペクトルから硫黄の各結合数に対する架橋密度を算出する算出工程とを含み、
前記測定する部位全体を675μm2以上とする架橋密度の測定方法。
IPC (3件)：
G01N 23/085 ( 201 8.01)
, C08L 21/00 ( 200 6.01)
, C08K 3/06 ( 200 6.01)
G01N 23/085
, C08L 21/00
, C08K 3/06
