特許
J-GLOBAL ID：202003008335023913
マススペクトロメトリーのための装置および方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 森田 拓
, 前川 純一
, 二宮 浩康
, 上島 類
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-549675
特許番号：特許第6767993号
出願日： 2016年03月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 マススペクトロメトリーのための装置であって、
・トリガパルスと同期して局所化された分析物部位を生成するための部位発生器と、
・局所化された前記分析物部位を搬送するために前記部位発生器と接続された搬送システムと、
・受け取った分析物部位をプラズマによって気化、霧化およびイオン化するために前記搬送システムと接続されたプラズマイオン化ユニットと、
・受け取った分析物部位の元素含有物を分析するために前記プラズマイオン化ユニットと接続され、少なくとも1つの検出器を有する質量分析器と、
・前記少なくとも1つの検出器により生成された信号を収集するために、前記少なくとも1つの検出器と接続されたデータ収集エレクトロニクスデバイスと、
を備える、マススペクトロメトリーのための装置において、
部位発生と検出との間で分析すべき前記分析物部位に生じる遅延を考慮するために、信号遅延装置が設けられており、該信号遅延装置は、前記トリガパルスを受け取り、該トリガパルスに対応する遅延された信号を供給し、
前記遅延された信号は、前記質量分析器へ供給され、前記質量分析器をイネーブルにするために用いられる、
ことを特徴とする、
マススペクトロメトリーのための装置。
IPC (4件)：
G01N 27/62 ( 200 6.01)
, G01N 27/64 ( 200 6.01)
, H01J 49/10 ( 200 6.01)
, H01J 49/40 ( 200 6.01)
G01N 27/62 F
, G01N 27/62 G
, G01N 27/64 B
, H01J 49/10 500
, H01J 49/40
