特許
J-GLOBAL ID：202003008655242842

電圧監視回路および半導体装置

発明者：
鹿嶋 一生

鹿嶋 一生 について


出願人/特許権者：
ルネサスエレクトロニクス株式会社

ルネサスエレクトロニクス株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人筒井国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-243988
公開番号（公開出願番号）：特開2018-098717
特許番号：特許第6764331号
出願日： 2016年12月16日
公開日（公表日）： 2018年06月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 監視対象電圧を第1の判定しきい値電圧と比較することで前記監視対象電圧のスペック違反の有無を検出し、かつ自己診断に際し、要求に応じてスペック違反有りの検出結果を出力可能な電圧監視回路であって、 前記第1の判定しきい値電圧は、前記監視対象電圧の上限スペック違反または下限スペック違反の有無を検出するための電圧であり、 前記第1の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧とは逆極性の電圧である第2の判定しきい値電圧と、前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧と同極性の電圧であり、かつ前記監視対象電圧を基準として前記第1の判定しきい値電圧よりも大きい電位差を備える第3の判定しきい値電圧の中のいずれかを選択する選択回路と、 前記選択回路で選択された選択電圧と前記監視対象電圧とを比較することで、前記スペック違反の有無を検出する比較回路と、 を有し、 前記選択回路は、前記自己診断に際し、前記第1の判定しきい値電圧を初期状態として、順に、前記第2の判定しきい値電圧、前記第3の判定しきい値電圧、前記第1の判定しきい値電圧を選択する、 電圧監視回路。
IPC (6件)：
H03K 5/08 ( 200 6.01) ,  H03K 17/00 ( 200 6.01) ,  H03K 17/0412 ( 200 6.01) ,  H03K 19/00 ( 200 6.01) ,  H03K 19/094 ( 200 6.01) ,  G01R 19/165 ( 200 6.01)
FI (6件)：
H03K 5/08 P ,  H03K 17/00 B ,  H03K 17/041 ,  H03K 19/00 220 ,  H03K 19/094 ,  G01R 19/165 J
引用特許：
審査官引用 (2件)

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