特許
J-GLOBAL ID：202003009206306026
分析方法及び分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 高橋 俊一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-097830
公開番号（公開出願番号）：特開2017-207289
特許番号：特許第6740703号
出願日： 2016年05月16日
公開日（公表日）： 2017年11月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 検出対象物質と、前記検出対象物質を標識するための金属化合物として、複素屈折率n-kiの虚数部kiの消衰係数kが0.3以下で、かつ、実数部の屈折率nが2.1〜2.5の範囲、または、消衰係数kが0.2以下で、かつ、屈折率nが2.1〜2.6の範囲を有する微粒子とが捕捉されている反応領域を有する、樹脂材料で形成された分析用基板にレーザ光を照射し、
前記分析用基板からの反射光を受光して生成された信号レベルを基板信号レベルとして抽出し、
前記反応領域からの反射光を受光して受光レベル信号を生成し、
前記反応領域において前記基板信号レベルよりも高い信号レベルの受光レベル信号を微粒子検出信号として抽出し、
抽出された微粒子検出信号に基づいて前記微粒子を検出する
分析方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01N 33/543 541 Z
, G01N 33/543 541 A
