特許
J-GLOBAL ID：202003010446085785
質量分析データ解析装置及び解析方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-530294
特許番号：特許第6743892号
出願日： 2016年07月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数のクラスに分類されてなる複数の試料に対してそれぞれ質量分析を行うことで得られたマススペクトルデータを学習データとし所定の機械学習を実行することで求められた学習結果情報を用いて、目的試料に対し質量分析を行うことで得られたマススペクトルデータに基づき該目的試料をクラス分けする質量分析データ解析方法であって、
a)前記学習データとして与えられた複数のマススペクトルデータそれぞれについて、予め設定された一又は複数の質量電荷比又は質量電荷比範囲における信号強度情報を削除する又はその重み付けを修正する処理を行う学習データフィルタリングステップと、
b)前記学習データフィルタリングステップで処理されたあとの学習データを用いて前記機械学習を実行し学習結果情報を作成して記憶する学習実行ステップと、
c)目的試料に対して得られたマススペクトルデータについて前記学習データフィルタリングステップと同等の処理を実行する目的データフィルタリングステップと、
d)前記目的データフィルタリングステップで処理されたあとのマススペクトルデータに基づき、前記学習実行ステップにおいて記憶された学習結果情報を用いて前記目的試料が複数のクラスのいずれかに属するかを判定する判定実行ステップと、
を有することを特徴とする質量分析データ解析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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