特許
J-GLOBAL ID：202003010928869686
測定装置、測定方法、および測定プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-223533
公開番号（公開出願番号）：特開2020-085763
出願日： 2018年11月29日
公開日（公表日）： 2020年06月04日
要約：
【課題】従来の厚さ計において、吸水性のある測定対象物の厚さを測定した場合、測定対象物の吸水量により測定光および参照光の透過率が変化し、測定誤差が増加し得る。【解決手段】シート状の測定対象物の厚さを測定する測定装置であって、第1波長を有する第1光を測定対象物に透過させた光の第1光強度、第1波長よりも測定対象物の材料による吸収率が低い第2波長を有する第2光を測定対象物に透過させた光の第2光強度、および、第1波長よりも測定対象物の材料による吸収率が低く、第2波長よりも流体を含んだ測定対象物による吸収率が低い第3波長を有する第3光を測定対象物に透過させた光の第3光強度、を検出する検出部と、第1光強度、第2光強度、および、第3光強度を用いて、測定対象物の厚さを算出する厚さ算出部と、を備える測定装置を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
シート状の測定対象物の厚さを測定する測定装置であって、
第1波長を有する第1光を前記測定対象物に透過させた光の第1光強度、
前記第1波長よりも前記測定対象物の材料による吸収率が低い第2波長を有する第2光を前記測定対象物に透過させた光の第2光強度、および、
前記第1波長よりも前記測定対象物の材料による吸収率が低く、前記第2波長よりも流体を含んだ前記測定対象物による吸収率が低い第3波長を有する第3光を前記測定対象物に透過させた光の第3光強度、を検出する検出部と、
前記第1光強度、前記第2光強度、および、前記第3光強度を用いて、前記測定対象物の厚さを算出する厚さ算出部と、
を備える測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (32件)：
2F065AA30
, 2F065BB13
, 2F065BB17
, 2F065CC02
, 2F065CC31
, 2F065DD04
, 2F065EE00
, 2F065EE11
, 2F065FF46
, 2F065GG02
, 2F065GG07
, 2F065GG23
, 2F065HH13
, 2F065HH15
, 2F065JJ09
, 2F065JJ18
, 2F065LL22
, 2F065LL23
, 2F065LL28
, 2F065MM03
, 2F065MM07
, 2F065NN06
, 2F065PP02
, 2F065PP16
, 2F065QQ01
, 2F065QQ14
, 2F065QQ16
, 2F065QQ17
, 2F065QQ21
, 2F065QQ25
, 2F065QQ44
, 2F065RR06
出願人引用 (1件)
-
摺動装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2015-177088
出願人：株式会社豊田中央研究所
審査官引用 (1件)
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摺動装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2015-177088
出願人：株式会社豊田中央研究所
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