特許
J-GLOBAL ID：202003011319042879
画像処理装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-134620
公開番号（公開出願番号）：特開2020-013292
出願日： 2018年07月18日
公開日（公表日）： 2020年01月23日
要約：
【課題】撮像画像における放射線の像の識別を、演算負荷を抑えつつ精度良く行うことができる画像処理装置を提供する。【解決手段】画像から放射線の像を除去するために画像中の放射線の像を識別する画像処理装置であって、画像取得部と、画像に対し画像処理を行う演算部と、を備え、演算部は、画像における対象画素と当該対象画素の周縁を囲む画素を含む領域に対し、対象画素に対応する中心位置の画素及び当該中心位置の上下左右に位置する画素において所定の画素値を持ち、他の位置の画素値を0とした畳み込みカーネルにより畳み込み処理を行い、畳み込み処理を実行した後、当該対象画素の周縁の上下左右に位置する画素の画素値の平均に対する、当該対象画素の周縁を囲む画素のうち四隅に位置する画素の画素値の平均の比率を算出し、当該比率に基づいて当該対象画素が放射線の像であるか否かを判定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
放射線の像が実質的に1つの画素に収まる画素サイズの画像において、前記画像から前記放射線の像を除去するために前記画像中の前記放射線の像を識別する画像処理装置であって、
前記画像を取得する画像取得部と、前記画像に対し画像処理を行う演算部と、を備え、
前記演算部は、
前記画像における対象画素と当該対象画素の周縁を囲む画素を含む領域に対し、前記対象画素に対応する中心位置の画素及び当該中心位置の上下左右に位置する画素において所定の画素値を持ち、他の位置の画素値を0とした畳み込みカーネルにより畳み込み処理を行い、
前記畳み込み処理を実行した後、当該対象画素の周縁の上下左右に位置する画素の画素値の平均に対する、当該対象画素の周縁を囲む画素のうち四隅に位置する画素の画素値の平均の比率を算出し、当該比率に基づいて当該対象画素が放射線の像であるか否かを判定する、画像処理装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06T7/00 600
, G06T1/00 500A
5B057AA14
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CC01
, 5B057DA12
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC22
, 5L096BA08
, 5L096BA18
, 5L096CA02
, 5L096FA32
, 5L096FA62
, 5L096JA18
