円筒状超電導体の検査装置及び検査方法

発明者： , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：特許業務法人プロスペック特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-182165
公開番号（公開出願番号）：特開2020-051917
出願日： 2018年09月27日
公開日（公表日）： 2020年04月02日
要約：

【課題】円筒状超電導体の超電導状態の健全性を検査することができる検査装置を提供すること。【解決手段】検査装置は、超電導状態の円筒状超電導体7の円筒周面に対面配置した遮蔽磁場検出センサと、遮蔽磁場検出センサを円筒状超電導体の軸方向に移動させる軸方向移動ユニットと、遮蔽磁場検出センサを円筒状超電導体の中心軸回りに回転させる回転ユニットと、N極が遮蔽磁場検出センサを挟んで円筒状超電導体の円筒周面に対面する位置に配設され、遮蔽磁場検出センサとともに移動可能な磁石と、を備える。遮蔽磁場検出センサは、磁石から円筒状超電導体に印加される磁場が遮蔽されることにより形成される遮蔽磁場を、軸方向移動ユニット及び回転ユニットの駆動によって円筒状超電導体の円筒周面に沿って移動しながら検出する。これにより、円筒状超電導体の円筒周面内における超電導状態の健全性が検査される。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

超電導状態にされた円筒状超電導体の円筒周面に対面配置した遮蔽磁場検出センサと、前記遮蔽磁場検出センサを前記円筒状超電導体の軸方向に沿って移動させることができるように構成された軸方向移動ユニットと、前記遮蔽磁場検出センサを前記円筒状超電導体の中心軸回りに回転させることができるように構成された回転ユニットと、異なる2つの磁極を有し、一方の磁極が前記遮蔽磁場検出センサを挟んで円筒状超電導体の円筒周面に対面する位置に配設され、前記遮蔽磁場検出センサとともに移動可能に前記遮蔽磁場検出センサに接続された磁石と、を備え、前記遮蔽磁場検出センサが、前記磁石の前記一方の磁極から前記円筒状超電導体に印加される磁場が前記円筒状超電導体の円筒周面に遮蔽されることにより形成される遮蔽磁場を、前記軸方向移動ユニット及び前記回転ユニットの駆動によって前記円筒状超電導体の円筒周面に沿って移動しながら検出することにより、前記円筒状超電導体の円筒周面内における超電導状態の健全性を検査することができるように構成された、円筒状超電導体の検査装置。

IPC (5件)：

G01N 27/87 , H01L 39/02 , H01F 6/00 , G01R 33/10 , G01R 33/02

FI (5件)：

G01N27/87 , H01L39/02 Z , H01F6/00 , G01R33/10 , G01R33/02 K

Fターム (20件)：

2G017AA02 , 2G017AA08 , 2G017AC06 , 2G017AC09 , 2G017AD53 , 2G017BA18 , 2G053AB12 , 2G053BA02 , 2G053BA12 , 2G053BC20 , 2G053CA05 , 2G053DA01 , 2G053DA03 , 2G053DB02 , 4M114AA31 , 4M114CC03 , 4M114CC08 , 4M114CC18 , 4M114DA32 , 4M114DA45

引用特許：

出願人引用 (7件)

特開平3-084485
特開平4-168384
超電導膜の臨界電流密度測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-266349 出願人：独立行政法人産業技術総合研究所

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引用文献：

出願人引用 (1件)

NMR用超電導バルク磁石の新しい積層構造と内挿超電導円筒による磁場均一性向上

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