特許
J-GLOBAL ID：200903037533129230
超電導膜の臨界電流密度測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-266349
公開番号（公開出願番号）：特開2007-078500
出願日： 2005年09月14日
公開日（公表日）： 2007年03月29日
要約：
【課題】臨界電流密度JCと膜厚d の積JC×d が大きい長尺超電導厚膜テープ線材や大面積超電導膜の微小領域における臨界電流密度をJCを非破壊に測定すること。【解決手段】高透磁率極細線コア1を内装した励磁コイル2と検出コイル5の軸が共通なるように並べるとともに前記両コイル間に超電導膜3を挟み、励磁コイル2に交流電流を流すことにより発生する局所的な集中磁界を超電導膜3に印加して、励磁電流を徐々に増加させ、超電導膜3の超電導遮蔽電流密度が臨界電流に到達したときに超電導膜3を貫通する交流磁界を、検出コイル5により電圧信号として計測し、検出コイル5に電圧が発生し始めるときの励磁コイル2の電流値から臨界電流密度を測定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
高透磁率極細線コアを内装した励磁コイルと検出コイルの軸が共通なるように並べるとともに前記両コイル間に超電導膜を挟み、上記励磁コイルに交流電流を流すことにより発生する局所的な集中磁界を上記超電導膜に印加して、励磁電流を徐々に増加させ、上記超電導膜の超電導遮蔽電流密度が臨界電流に到達したときに上記超電導膜を貫通する交流磁界を、上記検出コイルにより電圧信号として計測し、上記検出コイルに電圧が発生し始めるときの上記励磁コイルの電流値から臨界電流密度を測定することを特徴とする超電導膜の臨界電流密度測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (14件)：
2G035AA11
, 2G035AB13
, 2G035AC13
, 2G035AD18
, 2G053AA00
, 2G053AB14
, 2G053BA16
, 2G053BB11
, 2G053BB17
, 2G053BC02
, 2G053BC14
, 2G053CA02
, 2G053CA03
, 2G053CB12
出願人引用 (2件)
審査官引用 (8件)
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引用文献：
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