特許
J-GLOBAL ID：202003015734850323

金属硫酸塩化合物に含まれるチオン酸の定量方法

発明者：
淵本 幸宏

淵本 幸宏 について


出願人/特許権者：
住友金属鉱山株式会社

住友金属鉱山株式会社 について


代理人 (1件)： 阿仁屋 節雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-253699
公開番号（公開出願番号）：特開2017-129574
特許番号：特許第6747284号
出願日： 2016年12月27日
公開日（公表日）： 2017年07月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 金属硫酸塩化合物に含まれるチオン酸としてのチオ硫酸イオンおよび亜硫酸イオンの両方または一方を定量するチオン酸の定量方法であって、 測定対象である金属硫酸塩化合物と溶媒とを含む試料溶液を準備する準備工程と、 前記試料溶液に誘導体化剤を添加し、前記金属硫酸塩化合物に由来する前記チオ硫酸イオンおよび前記亜硫酸イオンと反応させることにより、チオ硫酸誘導体および亜硫酸誘導体を生成する誘導体化工程と、 誘導体の種類に応じて異なる吸着性能を示す固相カラムを用いて前記試料溶液を固相抽出することにより、前記チオ硫酸誘導体および前記亜硫酸誘導体を種類毎にそれぞれ分離する分離工程と、 分離した前記チオ硫酸誘導体および前記亜硫酸誘導体から、前記チオ硫酸イオンおよび前記亜硫酸イオンの両方または一方を定量する測定工程と、を有する、金属硫酸塩化合物に含まれるチオン酸の定量方法。
IPC (1件)：
G01N 31/00 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G01N 31/00 P ,  G01N 31/00 Y
引用特許：
出願人引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (3件)

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