特許
J-GLOBAL ID：202003018779620905

電子製品の評価方法および評価装置

発明者：
佐々木 秀勝

佐々木 秀勝 について

, 
佐野 宏靖

佐野 宏靖 について


出願人/特許権者：
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター について


代理人 (3件)： 福田 伸一 ,  水崎 慎 ,  高橋 克宗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-154669
公開番号（公開出願番号）：特開2020-030073
出願日： 2018年08月21日
公開日（公表日）： 2020年02月27日
要約：
【課題】電子製品の誤動作原因となるノイズ周波数を明確にし、さらに誤動作の原因であるノイズを低減させる際のレベル指標を定める、電子製品の評価方法およびこの方法を用いた評価装置を提供する。【解決手段】ノイズ源12が電子製品10に備えられた伝送線路へコモンモードノイズの周波数をスイープしながら注入する第1過程と、前記伝送線路を介して前記電子製品10に備えられたデバイス30の端子31,32に注入されたコモンモードノイズの各周波数におけるノイズレベルを示す周波数特性を測定する第2過程と、前記デバイス30に誤動作が発生する各ノイズ周波数におけるノイズレベルを示す耐久特性を取得する第3過程と、前記周波数特性と前記耐久特性とから、前記電子製品10に誤動作を発生させる前記コモンモードノイズの周波数帯を特定する第4過程とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ノイズ源が電子製品に備えられた伝送線路へコモンモードノイズの周波数をスイープしながら注入する第1過程と、 前記伝送線路を介して前記電子製品に備えられたデバイスの端子に注入されたコモンモードノイズの各周波数におけるノイズレベルを示す周波数特性を測定する第2過程と、 前記デバイスに誤動作が発生する各ノイズ周波数におけるノイズレベルを示す耐久特性を取得する第3過程と、 前記周波数特性と前記耐久特性とから、前記電子製品に誤動作を発生させる前記コモンモードノイズの周波数帯を特定する第4過程と、 を有することを特徴とする電子製品の評価方法。
IPC (3件)：
G01R 31/30 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28
FI (3件)：
G01R31/30 ,  G01R31/00 ,  G01R31/28 Z
Fターム (11件)：
2G036AA06 ,  2G036AA10 ,  2G036AA19 ,  2G036BB12 ,  2G036CA01 ,  2G036CA12 ,  2G132AA20 ,  2G132AB08 ,  2G132AB10 ,  2G132AC10 ,  2G132AD04
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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