特許
J-GLOBAL ID：202003019171992652
配線回路基板の検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
岡本 寛之
, 宇田 新一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-149415
公開番号（公開出願番号）：特開2020-024162
出願日： 2018年08月08日
公開日（公表日）： 2020年02月13日
要約：
【課題】第1端子と第1プローブとを安定して接触させることができ、検査精度の向上を図ることができる配線回路基板の検査方法を提供すること。【解決手段】配線回路基板3に、第1端子9と第2端子10とが配線11により接続される回路8を複数備え、検査冶具2に、複数の第1端子9が並ぶ方向に延び、すべての第1端子9と接触する2つの第1プローブ14であって、第1プローブ14の延びる方向と直交する直交方向に互いに間隔を空けて配置される2つの第1プローブ14を備えるとともに、1つの第2端子10に対して接触する2つの第2プローブ15を、すべての第2端子10に対応して複数備える。そして、すべての第1端子9に2つの第1プローブ14を一括して接触させるとともに、複数の第2端子10のうち少なくとも1つの第2端子10に対応する2つの第2プローブ15を接触させて、回路8の断線を検査する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検査冶具を用いる配線回路基板の検査方法であって、
前記配線回路基板は、第1端子と第2端子とが配線により接続される回路を複数備え、
前記検査冶具は、
複数の前記第1端子が並ぶ方向に延び、すべての前記第1端子と接触する2つの第1プローブであって、前記第1プローブの延びる方向と直交する直交方向に互いに間隔を空けて配置される2つの第1プローブを備えるとともに、
1つの前記第2端子に対して接触する2つの第2プローブを、すべての前記第2端子に対応して複数備え、
すべての前記第1端子に前記2つの第1プローブを一括して接触させるとともに、前記複数の第2端子のうち少なくとも1つの第2端子に対応する前記2つの第2プローブを接触させて、前記回路の断線を検査する第1検査工程を含むことを特徴とする、配線回路基板の検査方法。
IPC (3件)：
G01R 31/50
, G01R 1/06
, G01R 1/067
G01R31/02
, G01R1/06 D
, G01R1/067 A
2G011AA10
, 2G011AA12
, 2G011AB08
, 2G011AE01
, 2G011AF07
, 2G014AA02
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G014AC10
