特許
J-GLOBAL ID：201503090238332984
配線回路基板の導通検査方法および配線回路基板の製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福島 祥人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-183768
公開番号（公開出願番号）：特開2015-052454
出願日： 2013年09月05日
公開日（公表日）： 2015年03月19日
要約：
【課題】電極パッド間が複数の線路で電気的に接続されている場合でも、電極パッド間の導通の異常を検出することが可能な配線回路基板の導通検査方法および配線回路基板の製造方法を提供する。【解決手段】測定プローブ54,55が電極パッド21,31にそれぞれ接触するとともに、測定プローブ56,57が電極パッド21,31にそれぞれ接触する。測定プローブ54,55を通して電極パッド21,31および複数の線路LA1〜LA5を含む電流経路に電流が流される。電流経路の電流の値が測定され、測定プローブ56,57間の電圧の値が測定される。測定された電流の値および測定された電圧の値に基づいて、電極パッド21,31間の導通が検査される。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
第1および第2の電極パッドが複数の線路により互いに電気的に接続された配線回路基板の導通検査方法であって、
第1および第2の測定プローブを前記第1および第2の電極パッドにそれぞれ接触させるとともに、第3および第4の測定プローブを前記第1および第2の電極パッドにそれぞれ接触させるステップと、
前記第1および第2の測定プローブを通して前記第1および第2の電極パッドならびに前記複数の線路に電流が流れるように電流経路を形成するステップと、
前記電流経路の電流の値を測定するステップと、
前記第3および第4の測定プローブ間の電圧の値を測定するステップと、
測定された電流の値および測定された電圧の値に基づいて、前記第1および第2の電極パッド間の導通を検査するステップとを含む、配線回路基板の導通検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (3件)：
2G014AA13
, 2G014AB59
, 2G014AC09
審査官引用 (2件)
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“アナログIC検査用「狭ピッチ・ケルビン検査用プローブ」を製品化”, 20120730
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“アナログIC検査用「狭ピッチ・ケルビン検査用プローブ」を製品化”, 20120730
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