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J-GLOBAL ID：202102142973247547   整理番号：21A0192216

I_DDQ計測による故障検出と故障診断

Fault Detection and Fault Diagnosis with I_DDQ Measurement

著者 (3件)： WEN Xiaoqing (秋田大 鉱山) ,  玉本英夫 (秋田大 鉱山) ,  樹下行三 (大阪大 大学院工学研究科)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 19  号： 4 (Web)  ページ： 309-317(J-STAGE)  発行年： 1997年06月10日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 正常なCMOS回路の静的電源電流(I_DDQ)は微小であるが,回路内の欠陥により静的電源電流が増大することが多い.このため,I_DDQ計測で得られる情報はCMOS回路のテストと欠陥解析に役立つ.また,従来から用いられてきた縮退故障モデルと論理テストでは対処できない欠陥がCMOS回路に存在するので,I_DDQ情報は質の高いテストと効率的な欠陥解析を行うために不可欠でもある.本論文では,I_DDQテストにおいて多用されるトランジスタ短絡故障モデルを用いて,I_DDQテストの原理,I_DDQテストベクトルの選択手法およびI_DDQ情報と外部出力論理値情報の併用による故障診断手法について延べる.(著者抄録)

シソーラス用語： *故障検出 ,  *故障診断 ,  *CMOS ,  *回路試験 ,  電流測定 ,  集積回路 ,  欠陥検査 ,  電流センサ ,  短絡【電気】 ,  モデル
準シソーラス用語： 欠陥解析 ,  電流計測 ,  短絡故障 ,  故障モデル

分類 (2件)： 集積回路一般  (NC03161C) ,  電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 計測 ,  故障検出 ,  故障診断