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J-GLOBAL ID:202102213286624087   整理番号:21A0147462

高線量Mg注入GaNにおけるパルスレーザアニーリングによる特性操作【JST・京大機械翻訳】

Property manipulation through pulsed laser annealing in high dose Mg-implanted GaN
著者 (10件):
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巻: 128  号: 23  ページ: 235704-235704-8  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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イオン注入によるp型GaNの生成は,GaN系バイポーラ素子の大量生産における魅力的な命題であるが,注入誘起格子擾乱と欠陥の除去は困難な運動であり,GaN中の伝導率の転換を妨げる。パルスレーザーアニーリングは,格子結晶性を回復させ,保存された注入プロファイルを有するドーパントを活性化するための効果的なアニーリング技術である。本研究では,高線量マグネシウム(Mg)イオン注入GaNにおける構造的および光学的回復に及ぼすパルスレーザアニーリングの影響を調べた。構造発展と振動動力学は,パルスレーザーアニーリングプロセスの間にMg注入GaNの明白な構造回復と部分歪放出を示し,閾値レーザフルエンスは400mJ/cm2であり,一方,粗い表面構造は液相エピタクシーに類似した再成長機構の結果である。パルスレーザ照射後の3.35eVでのドナー-アクセプタ遷移の増強は,格子間サイトからGaイオンの置換へのMgの効果的な活性化の兆候である。これらの結果は,レーザアニーリング技術のさらなる最適化が,Mg注入GaNのp型伝導率を操作する有望な可能性を持ち,実用化のためにGaNバイポーラデバイスに実装されることを示唆する。Copyright 2021 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
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半導体のルミネセンス  ,  半導体薄膜  ,  半導体の格子欠陥  ,  半導体の放射線による構造と物性の変化 

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