文献

J-GLOBAL ID：202102215873160198   整理番号：21A2490700

3.1THzにおけるバイマテリアルマイクロカンチレバーFPAに基づく高分子材料の欠陥検出【JST・京大機械翻訳】

Defect Detections of Polymers Materials Based on Bi-Material Microcantilever FPA at 3.1THz

著者 (5件)： Miao Jiahao (National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University,Beijing,China,100871) ,  Xu Jia (National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University,Beijing,China,100871) ,  Liu Yi (National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University,Beijing,China,100871) ,  Tian Yuan (National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University,Beijing,China,100871) ,  Yu Xiaomei (National Key Laboratory of Science and Technology on Micro/Nano Fabrication, Institute of Microelectronics, Peking University,Beijing,China,100871)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2021  号： Transducers  ページ： 1092-1095  発行年： 2021年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,3.1テラヘルツ(THz)でのバイマテリアルマイクロカンチレバー焦点面アレイ(FPA)に基づく高分子の欠陥検出を報告する。FPAはメタマテリアル吸収体(MA)を2材料マイクロカンチレバーに統合して実現し,熱機械的感度を3.86μm/Kと測定した。次に,THzビームコリメーションと拡張のための放物面鏡グループによってイメージングシステムを確立し,従来のレンズと比較して約44%のTHzエネルギー損失を減少させることができた。製作したFPAと共に提案したシステムは,1mmの分解能で,室温で異なる高分子の欠陥検出を実現した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： エネルギー損失 ,  複合材料 ,  レンズ ,  分解能 ,  *故障検出 ,  *高分子 ,  放物面鏡 ,  吸収体 ,  テラヘルツ波
準シソーラス用語： メタマテリアル ,  *高分子材料 ,  マイクロカンチレバー ,  焦点面アレイ ,  イメージングシステム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 高分子材料 ,  欠陥検出