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J-GLOBAL ID:202102219602303229   整理番号:21A0038583

キャリア局在化により支配されたAlリッチAlGaN/AlN量子井戸構造におけるキャリア動力学【JST・京大機械翻訳】

Carrier Dynamics in Al-Rich AlGaN/AlN Quantum Well Structures Governed by Carrier Localization
著者 (9件):
資料名:
巻: 257  号: 12  ページ: e2000242  発行年: 2020年 
JST資料番号: C0599A  ISSN: 0370-1972  CODEN: PSSBBD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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強いキャリア局在化の存在下でのAlリッチAlGaN/AlN量子井戸(QW)構造のキャリア動力学を報告した。低温での励起密度依存光ルミネセンス(PL)測定は,効率ドループの開始と時間積分PLスペクトルの広がりの間に明確な相関を明らかにした。ドループ開始は局所化強度によって強く影響を受けるが,PL発光広がりは発光スペクトルの高エネルギー側にほとんど排他的に観測された。スペクトル分解PL減衰過渡測定は,調べた構造の局在化強度に依存して,局在状態の分布および温度と同様に,スペクトルにわたる発光光子エネルギーに対するキャリア寿命の強い依存性を明らかにした。PL発光エネルギーの特徴的「S」型温度依存性は,局在状態間のキャリアの熱再分布に直接相関することを示した。これらの知見に基づいて,AlGaN QW構造における再結合過程におけるキャリア局在化の役割を強調し,効率ドループに対する含意を考察した。Copyright 2021 Wiley Publishing Japan K.K. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体のルミネセンス  ,  半導体薄膜 

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