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J-GLOBAL ID：202102223867128422   整理番号：21A0067194

エッジを意識した残差内挿を用いた単色およびカラー偏光デモザイキング【JST・京大機械翻訳】

Monochrome And Color Polarization Demosaicking Using Edge-Aware Residual Interpolation

著者 (4件)： Morimatsu Miki (Tokyo Institute of Technology,Tokyo,Japan) ,  Monno Yusuke (Tokyo Institute of Technology,Tokyo,Japan) ,  Tanaka Masayuki (Tokyo Institute of Technology,Tokyo,Japan) ,  Okutomi Masatoshi (Tokyo Institute of Technology,Tokyo,Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ICIP  ページ： 2571-2575  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分割焦点面またはマイクログリッド画像偏光計は,1ショットで一組の偏光画像を取得することを可能にする。偏光計はモノクロームまたはカラー偏光フィルタアレイ(MPFAまたはCPFA)を備えた画像センサから成るので,欠落画素値を補間するデモザイキングプロセスは高品質偏光画像を得る上で重要な役割を果たす。本論文では,エッジ意識残差補間(EARI)に基づく新しいMPFAデモザイキング法を提案し,それをCPFAデモザイキングに拡張した。EARIの鍵は,欠測画素値を補間するために使用される効果的なガイド画像を生成するための新しいエッジ検出器である。また,3CCDカメラと回転偏光子を用いて捕捉された新しく構築した完全カラー偏光画像データセットも提示した。データセットを使用して,著者らのEARIベースの方法がMPFAとCPFAデモザイキングにおいて既存の方法より優れていることを実験的に実証した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *偏光 ,  *残差 ,  *内挿法 ,  偏光計 ,  粒状材 ,  エッジ検出 ,  イメージセンサ ,  マイクログリッド
準シソーラス用語： 偏光フィルタ ,  *デモザイキング ,  画素値 ,  偏光画像 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (8件)： エッジ ,  意識 ,  残差 ,  内挿 ,  単色 ,  カラー ,  偏光 ,  デモザイキング