Thekkut Sanoop について
Department of Systems Science and Industrial Engineering, Binghamton University, Binghamton, NY 13902 について
Kokash Maan Zaid について
Department of Systems Science and Industrial Engineering, Binghamton University, Binghamton, NY 13902 について
Sivasubramony Rajesh Sharma について
Department of Systems Science and Industrial Engineering, Binghamton University, Binghamton, NY 13902 について
Kawana Yuki について
Showa Denko Materials Co., Ltd., Ibaraki 3004247, Japan について
Mirpuri Kabir について
NXP Semiconductors, Chandler, AZ 85224 について
Shahane Ninad について
Texas Instruments Inc., Santa Clara, CA 95051 について
Thompson Patrick について
Texas Instruments Inc., Santa Clara, CA 95051 について
Greene Christopher M. について
Department of Systems Science and Industrial Engineering, Binghamton University, Binghamton, NY 13902 について
Borgesen Peter について
Department of Systems Science and Industrial Engineering, Binghamton University, Binghamton, NY 13902 について
Journal of Electronic Packaging について
クリープ について
高温 について
焼結 について
焼なまし について
ネットワーク について
繰返し荷重 について
銅 について
粒界拡散 について
空隙率 について
クリープ速度 について
ナノ結晶 について
非弾性変形 について
ナノポーラス について
転位運動 について
マイクロジョイント について
ヒートシンク について
銅ナノ粒子 について
急速焼結 について
空隙率 について
粒子サイズ について
巨視的歪 について
非弾性変形 について
印象クリープ試験 について
拡散クリープ について
転位 について
アニーリング について
粗大化 について
表面拡散 について
酸化 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
接続部品 について
銅ナノ粒子 について
非弾性変形 について