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J-GLOBAL ID：202102234844956032   整理番号：21A1474027

被覆Al導電性ワイヤの非破壊検査のためのテラヘルツ応用【JST・京大機械翻訳】

Terahertz Application for Non-Destructive Inspection of Coated Al Electrical Conductive Wires

著者 (4件)： Kuroo Kenta ,  Hasegawa Ryo ,  Tanabe Tadao ,  Oyama Yutaka
資料名： Journal of Imaging (Web)  (Journal of Imaging (Web))
巻： 3  号： 3  ページ： 27  発行年： 2017年 
JST資料番号： U7220A  ISSN： 2313-433X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現在,電線の主な検査方法の一つは目視検査である。新しい非破壊検査技術の開発は,碍子の除去による水侵入のような様々な問題のために必要とされる。テラヘルツ(THz)波は導電性ワイヤの被覆のような非極性物質に対する高い透明性を持つので,導電性ワイヤはTHz非破壊検査に非常に適している。本研究では,アルミニウム電線上の欠陥を検出する定量的可能性を調べるために,THz波反射イメージング測定を,人工的に接続したワイヤに対して行った。THz波を用いたアルミニウム電線の切断状態に対して定量的検出が可能であることが分かった。Copyright 2021 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *アルミニウム ,  *被覆 ,  電線 ,  碍子 ,  画像処理 ,  *金属線 ,  非破壊検査 ,  非極性 ,  肉眼検査 ,  *導電性 ,  *テラヘルツ波
準シソーラス用語： 透明性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： テラヘルツ波 ,  イメージング ,  非破壊検査 ,  アルミニウム電線

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (13件)：

• Nishizawa, J.; Suto, K. Semiconductor Raman laser. J. Appl. Phys. 1980, 51, 2429-2431.
• Tanabe, T.; Suto, K.; Nishizawa, J.; Kimura, T.; Saito, K. Frequency-tunable high-power terahertz wave generation from GaP. J. Appl. Phys. 2003, 93, 4610-4615.
• Tanabe, T.; Suto, K.; Nishizawa, J.; Sasaki, T. Characteristics of terahertz-wave generation from GaSe crystals. J. Phys. D 2004, 37, 155-158.
• Palka, N.; Miedzinska, D. Detailed non-destructive evaluation of UHMWPE composites in the terahertz range. Opt. Quant. Electron. 2014, 46, 515-525.
• Zimdars, D.; Valdmanis, J.A.; White, J.S.; Stuk, G.; Williamson, S.; Winfree, W.P.; Nadaras, E.I. Technology and applications of terahertz imaging non-destructive examination: Inspection of space shuttle sprayed on foam insulation. AIP Conf. Proc. 2005, 760, 570-577.

タイトルに関連する用語 (6件)： Al ,  導電性 ,  ワイヤ ,  非破壊検査 ,  テラヘルツ ,  応用