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J-GLOBAL ID：202102235264342417   整理番号：21A0834763

G8.6 TFT-LCDsの損傷スポットを改良する最新FSA(UVキュアに似た)プロセス技術

Advanced FSA(UV Curing like) Process Technology to Improve Broken Spot for G8.6 TFT-LCDs

著者 (4件)： YAO Yu (Chongqing HKC optoelectronics technol., Chongqing, CHN) ,  CHOU Jeff (Chongqing HKC optoelectronics technol., Chongqing, CHN) ,  HSU James (Chongqing HKC optoelectronics technol., Chongqing, CHN) ,  YORK Wade (Chongqing HKC optoelectronics technol., Chongqing, CHN)
資料名： Proceedings of the International Display Workshops (CD-ROM)  (Proceedings of the International Display Workshops (CD-ROM))
巻： 24th  ページ： ROMBUNNO.LCT4-3  発行年： 2017年12月05日 
JST資料番号： L4269B  ISSN： 1883-2504  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・TFT-LCDsのセルプロセスで最新のVA/PSVA(FSA)技術について報告。
・FSAプロセスで課題の損傷スポットを低減するため,UVMプロセスパラメータを最適化し,32インチHDTVに適用。

シソーラス用語： *液晶ディスプレイ ,  薄膜トランジスタ ,  *光架橋 ,  紫外線 ,  応答時間 ,  *硬化
準シソーラス用語： *TFT-LCD ,  *キュアリング ,  *紫外線架橋

分類 (2件)： 表示機器  (NC06030Q) ,  液晶一般  (BK03010L)

引用文献 (3件)：

• Yasusiro Ukai, “TFT-LCDs as The Future Leading Role of FPD,” SID 2013 DIGEST p.28-31
• Koichi Miyachi, Kazuki Kobayashi, Yuichiro Yamada, Shigeaki Mizushima, “Distinguished Paper : The World’s First Photo Alignment LCD Technology Applied to Generation Ten Factory,” SID 2010 DIGEST p.579-582
• Te-Sheng Chen, Chien-Wei Huang, ChungChing Hsieh, Bo-Hsun Huang, Jia-Han Jian, Te-Wei Chan, Chen-Han Tsao, Chieh-Wei Chen, Chao-Yuan Chen, Chih-Ho Chiu, Chia-Hsuan Pai, Jyh-Hong Jaw, His-Chien Lin, Chung-Yi Chiu, Jenn-Jia Su, Sugiura Norio, Ting-Jui Chang, Wei-Lung Liau, Allen Lien, “Invited Paper : Advanced MVA III Technology for High-Quality LCD TVs,” SID 2009 DIGEST p.776-779

タイトルに関連する用語 (4件)： G8 ,  損傷 ,  スポット ,  プロセス