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J-GLOBAL ID:202102250579847475   整理番号:21A0424113

再突入時の宇宙機周り電子/重粒子数密度分布解析

著者 (1件):
資料名:
号: 35  ページ: WEB ONLY  発行年: 2020年 
JST資料番号: U2205A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・宇宙機再突入時のプラズマ発生による通信電波障害現象「通信ブラックアウト」の回避・低減について考察。
・ここでは,地上風洞施設との比較を想定し,数値解析による宇宙機周りの電子数/重粒子密度を予測。
・シュリーレン干渉法による重粒子密度の計測。
・数値解析による電子数密度分布の算出。
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
大気・天体プラズマ 
引用文献 (23件):
  • Itoh, K., Ueda, S., Tanno, H., Komuro, T. and Sato, K., Hypersonic Aerothermodynamic and Scramjet Research Using High Enthalpy Shock Tunnel, Shock Waves, Vol. 12, 93-98, 2002
  • Tanno H., Komuro T., Sato K., Itoh K., Lillard R.P., Olejniczak J., Grinstead J.H.: Aeroheating measurement of Apollo shaped capsule with boundarylayer trip in the free-piston shock tunnel HIEST, AIAA 2014-0434.
  • Brett A. Cruden, Aaron M. Brandis, Joseph Olejniczak, Jay Grinstead, Lindsay Kirk, Randolph P. Lillard, Hideyuki Tanno, Tomoyuki Komuro, Measurement of Ultraviolet Radiative Heating Augmentation in HIEST Reflected Shock Tunnel, AIAA 2015-2512
  • W.Mertzkirch, Flow Visualization, Academic Press New York, 1974
  • R.D.Small, V.A.Sernas, and R.H.Page, Single Beam Schlieren Interferometer Using a Wollaston Prism, APPLIED OPTICS, 1972
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