抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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受動相互変調(PIM)測定用の従来のキャリブレーション法を,PIM試験ループ(DUTを含む)が低いPIM状態または等しいPIM応答を持つかどうかをチェックするために,試験した低PIM負荷またはいくつかのPIM固定値標準を用いて実現した。しかし,潜在的非線形性がすべての種類のマイクロ波デバイスで広く普及しているので,全試験ループの低PIMスタットまたはいくつかの固定参照値に基づくPIM較正は十分ではない。調整可能なPIM源ベースのキャリブレーション法が現れ,それは,全試験範囲におけるすべての試験値を検証するために,一連の連続的同調可能PIM参照を提供できる。本研究では,調整可能なPIM基準を生成するいくつかの技術をまとめ,紹介した。これらの方法は,PIM測定に対する特定の要求に標的化され,これらの技法は,-112dBm@2・43dBm以下の弱いPIMレベルを与えることができ,一方,調整可能なPIM位相基準は,さらに達成される。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】