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J-GLOBAL ID：202102252930920548   整理番号：21A0564909

調整可能なPIM標準による改善によるPIM試験較正の概要【JST・京大機械翻訳】

Overview of PIM test calibrations with its improvement by tunable PIM standard

著者 (2件)： Chen Xiong (School of Microelectronics, Tianjin University,Tianjin,China) ,  Ren Tianxiong (School of Microelectronics, Tianjin University,Tianjin,China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2020  号： ICEICT  ページ： 328-330  発行年： 2020年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 受動相互変調(PIM)測定用の従来のキャリブレーション法を,PIM試験ループ(DUTを含む)が低いPIM状態または等しいPIM応答を持つかどうかをチェックするために,試験した低PIM負荷またはいくつかのPIM固定値標準を用いて実現した。しかし,潜在的非線形性がすべての種類のマイクロ波デバイスで広く普及しているので,全試験ループの低PIMスタットまたはいくつかの固定参照値に基づくPIM較正は十分ではない。調整可能なPIM源ベースのキャリブレーション法が現れ,それは,全試験範囲におけるすべての試験値を検証するために,一連の連続的同調可能PIM参照を提供できる。本研究では,調整可能なPIM基準を生成するいくつかの技術をまとめ,紹介した。これらの方法は,PIM測定に対する特定の要求に標的化され,これらの技法は,-112dBm@2・43dBm以下の弱いPIMレベルを与えることができ,一方,調整可能なPIM位相基準は,さらに達成される。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 同調 ,  相互変調 ,  非線形性 ,  位相 ,  *ターゲティング
準シソーラス用語： マイクロ波デバイス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： PIM ,  標準 ,  試験 ,  較正 ,  概要