Hubicka Z. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Cada M. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Kapran A. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Kapran A. について
Charles University, Faculty of Mathematics and Physics, V Holesovickach 2, 180 00 Prague, Czech Republic について
Olejnicek J. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Ksirova P. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Zanaska M. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Adamek P. について
Institute of Physics, Czech Academy of Sciences, Na Slovance 2, 182 00 Prague, Czech Republic について
Tichy M. について
Charles University, Faculty of Mathematics and Physics, V Holesovickach 2, 180 00 Prague, Czech Republic について
Coatings (Web) について
Langmuir探針 について
X線回折 について
イオン化 について
混合気体 について
電子密度 について
薄膜 について
プラズマ診断 について
流量 について
X線回折分析 について
硫化鉄 について
反応器 について
硫化 について
堆積速度 について
監視装置 について
水晶 について
マグネトロン放電 について
HiPIMS について
Langmuirプローブ について
発光分光法 について
時間分解プローブ測定 について
H_2S電子密度 について
電子温度 について
イオン化率 について
SEM XRD について
その他の無機化合物の薄膜 について
薄膜成長技術・装置 について
混合ガス について
反応性 について
高出力 について
プラズマ診断 について