Guen E. について
CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France について
Chapuis P.-O. について
CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France について
Rajkumar R. について
Kelvin Nanotechnology, Glasgow, Scotland G12 8LS, United Kingdom について
Dobson P. S. について
School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, Scotland G12 8QQ, United Kingdom について
Mills G. について
Kelvin Nanotechnology, Glasgow, Scotland G12 8LS, United Kingdom について
Weaver J. M. R. について
School of Engineering, University of Glasgow, Glasgow, Scotland G12 8QQ, United Kingdom について
Gomes S. について
CETHIL UMR5008, Univ Lyon, CNRS, INSA-Lyon, Universite Claude Bernard Lyon 1, F-69621 Villeurbanne, France について
Journal of Applied Physics について
熱伝導 について
プローブ について
二酸化ケイ素 について
表面粗さ について
膜厚 について
接触熱抵抗 について
不均一性 について
キャラクタリゼーション について
超薄膜 について
空間分解能 について
走査型熱顕微鏡 について
接触面積 について
シリコンウエハ について
有効熱伝導率 について
ナノメータサイズ について
顕微鏡法 について
有効熱伝導率 について
平坦 について
試料 について
走査型熱顕微鏡法 について