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J-GLOBAL ID:202102258295654936   整理番号:21A0305707

ガス希薄化におけるMEMSカンチレバービーム共振器の品質に及ぼす環境条件の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of Environmental Conditions on Quality Factors of MEMS Cantilever Beam Resonator in Gas Rarefaction
著者 (6件):
資料名:
巻: 22  号:ページ:発行年: 2021年 
JST資料番号: W4938A  ISSN: 1557-2072  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,広範囲のガス希薄化(圧力(p)および適応係数(AC))および共振器の曲げモードにおけるマイクロエレクトロメカニカルシステム(MEMS)カンチレバービーム共振器の品質因子(Q因子)に及ぼす環境条件(水分および温度)の影響を検討した。改質分子ガス潤滑(MMGL)方程式を適用して,MEMSカンチレバービーム共振器の品質因子に関する支配的スクイーズ膜減衰(SFD)問題をモデル化し,環境条件の影響を論じた。外部SFDと内部構造減衰(熱弾性減衰)と支持損失を正確に考慮した。湿潤空気の動的粘度とPoiseuille流量の比である有効粘度を利用して,ガス希薄化における水分と温度の環境影響を考慮したMMGL方程式を修正した。低圧では,平均自由行程は,ガス希薄化における水分の動的粘度よりも,相対湿度および温度により,より顕著に変化した。したがって,湿度や温度などの環境条件の影響を,広範囲のガス希薄化(pとAC)と共振器の曲げモードにおけるMEMSカンチレバービーム共振器のQ因子を改善するために議論しなければならない。結果は,SFDのQ因子が,より高いガス希薄化(低いp,およびACs)で,水分と温度が増加するにつれて,かなり減少し,一方,SFDのQ因子は減少し,次に,より低いガス希薄化(より高いp,およびACs)で,水分と温度の増加に伴い,わずかに増加する事を示した。全Q因子は,より高いガス希薄化(低いpとAC)と共振器の低い曲げモードにおいて,相対湿度と温度に非常に敏感である。Copyright The Author(s), under exclusive licence to Springer Science+Business Media, LLC part of Springer Nature 2021 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
共振器  ,  固体デバイス製造技術一般 

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