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J-GLOBAL ID:202102258730672805   整理番号:21A1207029

ギガウエハ製造工場におけるロットレベルFabアウト予測の実現に関連する課題【JST・京大機械翻訳】

Challenges Associated with Realization of Lot Level Fab Out Forecast in a Giga Wafer Fabrication Plant
著者 (6件):
資料名:
巻: 2020  号: WSC  ページ: 1777-1788  発行年: 2020年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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半導体産業において,信頼できる配送予測は,需要計画を最適化するために役立つ。フロントエンド,バックエンド生産,試験およびトランジットのための非常にしばしばサイクル時間推定を用いて,製品レベルに関する配送時間を予測し,製品が顧客要求を時間的に満たし始めるかどうかを決定した。フロントエンド生産は,通常,製品のサイクル時間の大きな部分を消費する。したがって,フロントエンド生産に対する信頼できるサイクル時間推定は,全体のサイクル時間予測の精度にとって重要である。フロントエンド生産のための製品とロットレベルに関するサイクル時間と配送予測を予測するために,2つの異なる方法を比較し,歴史的データを解析して将来の挙動を予測して,fabシミュレーションモデルを確立した。Copyright 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
分類
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図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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