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J-GLOBAL ID：202102264845913866   整理番号：21A0328607

V字型二重スリットの伝搬距離を光学的にゼロにした電子干渉実験

Electron interference experiment with optically zero propagation distance for V-shaped double slit

著者 (7件)： Harada Ken (CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan) ,  Akashi Tetsuya (Research & Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan) ,  Takahashi Yoshio (Research & Development Group, Hitachi Ltd., Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan) ,  Kodama Tetsuji (Graduate School of Science & Technology, Meijo University, Nagoya, Aichi 468-8502, Japan) ,  Shimada Keiko (CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan) ,  Ono Yoshimasa A. (CEMS, RIKEN (Institute of Physical and Chemical Research), Hatoyama, Saitama 350-0395, Japan) ,  Mori Shigeo (Department of Materials Science, Osaka Prefecture University, Sakai, Osaka 599-8531, Japan)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 14  号： 2  ページ： 022006 (5pp)  発行年： 2021年02月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 1.2MVの電界放出型透過電子顕微鏡を用いて,二重スリットの位置を検出器面(像面)上だけで撮像する光学的に伝搬距離ゼロの条件(infocus imaging condition)を実現した。ドットイメージで構成される干渉縞は,2つの電子バイプリズムを用いて制御した。V字型のダブルスリットを用いて,電子波の干渉前条件,干渉条件,干渉後条件で干渉の特徴を観察した。その結果,個々の電子の経路情報が得られない場合にのみ,干渉縞の観察が可能であると結論づけた。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *間隙 ,  距離 ,  限界 ,  *干渉 ,  電子顕微鏡観察 ,  透過型電子顕微鏡 ,  干渉縞 ,  *電子波 ,  *二重スリット ,  電界放出顕微鏡法
準シソーラス用語： *スリット【構造】 ,  伝搬距離 ,  電界放出電子顕微鏡法 ,  透過電子顕微鏡

分類 (1件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F)

タイトルに関連する用語 (7件)： V字型 ,  二重スリット ,  伝搬距離 ,  光学 ,  電子 ,  干渉 ,  実験