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J-GLOBAL ID:202102266999661560   整理番号:21A0697715

トンネル結合した電荷センサを持つ物理形成シリコン量子ドットの特性評価

Characterization of physically defined silicon quantum dot with tunnel-coupled charge sensor
著者 (7件):
資料名:
巻: 81st  ページ: ROMBUNNO.11p-Z09-8  発行年: 2020年08月26日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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Silicon-on-insulator基板をエッチングすることで形成された物理形成シリコン量子ドット(Si-PDQD)は、ゲート数の少なさとQD配置の自由度からスピン量子ビットの集積化に向けて有望な系であると考えられる。このPDQDを用い...【本文一部表示】
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分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  量子光学一般 

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